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串联四极杆ICP-MS可实现对低浓度汞元素测定
发表时间:2023/11/24 11:22:20  |  点击率:714

许多汞 (Hg) 化合物有毒,会引起皮肤刺激、头痛、震颤、神经系统损伤和肾衰竭等不适或中毒症状。由于汞化合物极易透过皮肤被人体吸收,因此化妆品中 Hg 化合物的使用受到严格控制。例如,除非在特殊条件下(找不到其它可替代的安全有效防腐剂),否则美国食品药品监督管理局 (FDA) 不允许在化妆品里使用汞。

然而,Hg 化合物在护肤霜、肥皂和乳液中使用,可使其具有抗衰老美白功效。某些不法商贩看中了其中的商机,会在化妆品中非法添加 Hg 化合物,以求产品的显著功效,从中获利。

可使用 ICP-MS 测定低浓度的汞元素,但存在一定的困难。

汞具有较高的第一电离势 (10.44 eV),因此在等离子体中电离效果相对较差,从而导致灵敏度较低。此外,汞有七种天然存在的同位素,每一种同位素的丰度 (%) 都相对较低,这进一步降低了灵敏度。此外,一些化妆品中还含有大量钨 (W),这导致汞的所有同位素都受到 WO+ WOH+ 的多原子干扰,使得汞的测定更加困难。配有碰撞反应池 (CRC) 的传统单四极杆 ICP-MS 并不能充分去除 WO+ WOH+干扰,无法对汞进行准确的痕量测定。

在研究中发现,串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) MS/MS 模式、反应池气体为 O2 下具有出色的干扰去除能力,可成功去除 WO+ WOH+ 对五种主要汞同位素的多原子干扰,从而对汞进行原位质量检测

- 采用反应池气体为 O2  MS/MS 原位质量方法,在钨存在条件下的汞痕量测量准确一致

- 与传统的单四极杆 ICP-MS 相比,ICP-MS/MS 可将干扰降低至少两个数量级

- 8900 ICP-MS/MS 方法可轻易满足富含钨的化妆品样品中对痕量汞分析的要求

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